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潔凈室環(huán)境中的空氣分子污染物AMC，內部來自建筑材料釋出、設備和材料釋出、腐蝕和光刻等工藝過程中化學藥品逸散、人員產生、管路泄露、設備維護修理時散發(fā)等，外部來自環(huán)境空氣中存在的氣相污染物，以及潔凈室的廢氣排放重新送回潔凈室。

增強離子遷移譜氣體分析儀可提供達100 FWHM的分辨率，足以分辨異構體成分。SIMS的一大優(yōu)勢是可以使用環(huán)境大氣作為緩沖氣，這一優(yōu)勢就把使用成本減低為零。 SIMS儀器的離子遷移譜技術通過電暈放電（CD）電離源提升了靈敏度。

AMC監(jiān)測快速監(jiān)測、報警、極低濃度測量、寬測量區(qū)域、多氣體的高靈敏響應等是半導體工業(yè)要求之一。

智能離子遷移譜（SIMS）一大優(yōu)勢是可以使用環(huán)境大氣作為緩沖氣，這一優(yōu)勢就把使用成本減低為零。

實時監(jiān)測氣態(tài)分子污染物AMC可以在生產環(huán)境中快速的探測污染物。另外，直接吸收式的檢測因其零背景的性質，可保證長期高穩(wěn)定性。DKG ONE-CF4可與其他檢測儀器，如顆粒物監(jiān)測儀等，整合在一個機柜里。